冷熱沖擊試驗(yàn)箱是各種環(huán)境試驗(yàn)中，常用設(shè)備之一，適用于電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、航空產(chǎn)品、電子產(chǎn)品等各種元?dú)饧诟叩蜏乜焖俳蛔兓蚋叩蜏仂o置環(huán)境下， 檢驗(yàn)其性能和各項(xiàng)指標(biāo)及質(zhì)量管理之用。今天上海寶試檢測(cè)設(shè)備有限公司來(lái)講講冷熱沖擊試驗(yàn)箱的沖擊方式：

     國(guó)外主要以氣壓傳動(dòng)、氣流和箱體移動(dòng)等沖擊方式為主。由于氣壓傳動(dòng)式?jīng)_擊試驗(yàn)箱所需配套設(shè)備多數(shù)為標(biāo)準(zhǔn)件，零部件選擇方便，這種沖擊方式試驗(yàn)設(shè)備被廣泛采用，技術(shù)比較成熟。此類氣壓傳動(dòng)式?jīng)_擊試驗(yàn)箱通過(guò)機(jī)組的加熱系統(tǒng)和制冷系統(tǒng)，分別產(chǎn)生一個(gè)高溫環(huán)境(+70℃～+ 150℃)和一個(gè)低溫環(huán)境(-25℃～-65℃)，根據(jù)溫度沖擊試驗(yàn)的相關(guān)要求，將被測(cè)元件放入溫室的載物籃內(nèi)，待兩溫室達(dá)到預(yù)設(shè)溫度且穩(wěn)定時(shí)，通過(guò)氣壓傳動(dòng)機(jī)構(gòu)牽動(dòng)載物籃，實(shí)現(xiàn)籃內(nèi)被測(cè)元件(如：電子器件)在高低溫室間的移動(dòng)。移動(dòng)過(guò)程中高低溫室相通，被測(cè)元件也由高溫或低溫狀態(tài)進(jìn)入另一溫室，所以會(huì)有大量冷熱負(fù)荷帶入，機(jī)組要通過(guò)制冷系統(tǒng)或加熱系統(tǒng)迅速恢復(fù)到各溫室預(yù)定溫度。當(dāng)被測(cè)元件所在溫室溫度長(zhǎng)時(shí)間保持穩(wěn)定后，再經(jīng)過(guò)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)將載物籃反向牽動(dòng)，把被測(cè)元件帶回原溫室，同樣須迅速恢復(fù)到預(yù)定溫度，當(dāng)溫度再次長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定后，再重復(fù)上述操作，完成多次溫度循環(huán)沖擊試驗(yàn)。

     氣流式?jīng)_擊試驗(yàn)箱溫度沖擊原理與氣壓傳動(dòng)式?jīng)_擊試驗(yàn)箱類似，但其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎，靠交換改變進(jìn)入試驗(yàn)箱內(nèi)的冷熱氣流，來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)元件的冷熱沖擊。元件在箱體內(nèi)無(wú)需移動(dòng)，運(yùn)動(dòng)部件少，機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠性高，而且可以承載更多試驗(yàn)元件，提高了空間利用率和試驗(yàn)效率。這種沖擊方式出現(xiàn)較晚，機(jī)構(gòu)整體布置和配套設(shè)備都要重新設(shè)計(jì)，與以往的冷熱沖擊試驗(yàn)箱有較大區(qū)別。