兩箱高低溫沖擊試驗箱

簡要描述：兩箱高低溫沖擊試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產品、各種電子元氣件、電線、電纜等在高低溫快速交變環境下，確定組件、設備和其他產品經受環境溫度迅速變化的能力
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廠商性質：生產廠家
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更新時間：2023-11-07

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產品簡介

　　一、兩箱高低溫沖擊試驗箱簡介：

　　兩箱高低溫沖擊試驗箱根據待測試樣品的特殊性，分為兩箱式動態沖擊和三箱式靜態沖擊，本產品可做冷熱沖擊，也可以做單獨高溫或低溫使用。是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

　　二、兩箱高低溫沖擊試驗箱技術參數

型號	BS-40I	BS-80I	BS-100I	BS-150I	BS-252I	BS-450I
內箱尺寸WHD(mm)	400350300	500400400	500450450	600500500	700600600	800750750
外箱尺寸WHD(mm)	110019301450	120020001550	150019501600	130012301670	175021201970	190022702210
重量(KG)	700	900	1100	1200	1400	1900
溫度范圍	（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區： 60℃-150℃ 低溫區：-10℃--65℃ ）
升溫時間（蓄熱區）	RT-200℃約35min
降溫時間（蓄冷區）	RT—70℃約55min
溫度回復/切換時間	≤5min / ≤5sec以內
溫度精度/分布精度	±0.5℃ ±2.5% ℃
冷卻方式	風、水冷式/雙斷壓縮機
電源	AC380V ±10%V 50HZ/60HZ

　　三、兩箱高低溫沖擊試驗箱滿足標準：

　　1.GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

　　2.GB/2423.22-2012/IEC60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

　　3.GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

　　4.GJB360B-2009溫度沖擊試驗

　　5.GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

　　6.GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

　　7.GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件

　　8.GB/T11158-2008高溫試驗箱技術條件

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