一、高低溫沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

二、高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

三、江蘇高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格測(cè)試條件：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -55℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

• 兩箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -55℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

四、江蘇高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件